產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)先進(jìn)合理，GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

2、該試驗(yàn)箱主要功能元器件均采用世界名牌配置（含金量高）、技術(shù)原理先進(jìn)可靠、噪音與節(jié)能得到最佳控制——其性能可替代國(guó)外同類產(chǎn)品。

3、整機(jī)制冷系統(tǒng)采用PID演算控制,不需加配發(fā)熱管消耗額外功率，省電高達(dá)35%

4、設(shè)備具有良好的操作性、維護(hù)性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能、不污染環(huán)境及危害人身健康。

5、改變傳統(tǒng)冷熱對(duì)抗的控制方式，采用最新冷平衡的控制技術(shù)，能實(shí)現(xiàn)500~1000個(gè)循環(huán)不用化霜，提高工作效率，節(jié)約測(cè)試時(shí)間，更省電，節(jié)能環(huán)保；

應(yīng)用領(lǐng)域：

用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT、等物理性變化的測(cè)試之用

技術(shù)方案：

1. 產(chǎn)品名稱:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

2.試樣限制 本試驗(yàn)設(shè)備禁止：

易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

試驗(yàn)或儲(chǔ)存過(guò)程中可能產(chǎn)生易燃、爆炸、揮發(fā)、劇毒、腐蝕及放射性物質(zhì)的試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

3.容積、尺寸和重量

3.1.標(biāo)稱內(nèi)容積 :( 80L)

3.2.測(cè)試區(qū)內(nèi)箱尺寸: W(500)mm × H(400)mm × D(400)mm

3.3.整機(jī)外型尺寸: W(1650)mm × H(11720)mm × D(1680)mm

3.4.重     量:  800 KG

4.性能

4.1.測(cè)試環(huán)境條件 環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下

4.2.測(cè)試方法 GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

4.3.高低溫區(qū)溫度范圍  
1.高溫區(qū)部分：60℃~200℃

2.低溫區(qū)部分：-10℃~-70℃

3.測(cè)試區(qū)部分：150℃~-55℃

4.4.溫度測(cè)試范圍

1.高溫：60℃~150℃

2.低溫：-10℃~-55℃

4.5.高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間 ≤10S

4.6.高低溫恢復(fù)時(shí)間 3~5min（非線性空載下）

4.7.控制 精度 溫度：±0.2℃

（指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）

4.8.溫度波動(dòng)度 ≤0.5℃（溫度波動(dòng)度為中心點(diǎn)實(shí)測(cè)最高溫度和最低溫度之差的一半）

4.9.溫度 誤差 ≤±1℃（工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點(diǎn)實(shí)測(cè)的平均溫度）

4.10.溫度均勻度 ≤2.0℃（溫度均勻度為每次測(cè)試中實(shí)測(cè)最高溫度和最低溫度之差的算術(shù)平均值）

4.11.預(yù)熱區(qū)升溫速度 ≥3℃/min（非線性）

4.12.預(yù)冷區(qū)降溫速度 ≥2℃/min（非線性）

4.13.工作噪音

A聲級(jí)≤70dB(A)

(在環(huán)溫25℃，回聲少的隔音室內(nèi)測(cè)得；采用A計(jì)權(quán)，測(cè)試8個(gè)點(diǎn)的平均值；各測(cè)試點(diǎn)水平離噪音源1米、高度離地面1米)

4.14.滿足試驗(yàn)方法:

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低溫試驗(yàn)方法 Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb

GB2423.22-87溫度變化試驗(yàn)方法

GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)

GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)

（每立方米負(fù)載不大于35kg/m3鋼的熱容量，濕熱試驗(yàn)時(shí)無(wú)有源濕、熱負(fù)載）