PW-SD150LS高低溫低氣壓試驗箱
一、 用途和特點用途SD系列低氣壓試驗箱可以提供高溫、低溫、高度等環(huán)境模擬條件,用于航空、航天、汽車、造船、軍事、信息、電子等領域的材料、元器件、組件、部件和儀器儀表及小型設備等溫度和高度相關的環(huán)境試驗或可靠性測試。高性能&低能耗●專業(yè)送風設計:內置導流板風機蝸殼的風道保證箱內空氣溫度場均勻,溫度偏差小?!窠禍兀鹤兂崞喔咝д舭l(fā)器,抗結霜能力強,傳熱溫差小,降溫速率快;內壁輔助蒸發(fā)器、加熱器,真空
一、 用途和特點
用途 | SD系列低氣壓試驗箱可以提供高溫、低溫、高度等環(huán)境模擬條件,用于航空、航天、汽車、造船、軍事、信息、電子等領域的材料、元器件、組件、部件和儀器儀表及小型設備等溫度和高度相關的環(huán)境試驗或可靠性測試。 |
高性能&低能耗 | ●專業(yè)送風設計:內置導流板風機蝸殼的風道保證箱內空氣溫度場均勻,溫度偏差小。 |
●降溫:變翅片距高效蒸發(fā)器,抗結霜能力強,傳熱溫差小,降溫速率快; 內壁輔助蒸發(fā)器、加熱器,真空狀態(tài)下增加輻射換熱,箱內溫度均勻性性高。 | |
●耗電量低: 1. SD試驗箱采用VRF(變制冷劑流量)技術:控制器通過PID輸出驅動電子膨脹閥進行制冷量調節(jié),實現溫度的恒定。 與傳統(tǒng)BTHC控制方式(即平衡調溫:壓縮機連續(xù)制冷,加熱調節(jié)控制溫度穩(wěn)定)不同,VRF技術無須開啟加熱器可以實現低溫和常溫穩(wěn)定,能耗降低40%以上。 2.承壓箱體內襯特殊空氣隔熱結構,大大加快了真空狀態(tài)下空間環(huán)境溫度恢復速度,提高了空間溫場均勻度。 | |
高可靠性 | ●制冷: 1.使用德國比澤爾/博客半封閉壓縮機,安全保護功能齊全,可靠性高; 2.主要制冷和真空配件均采用國際一流品牌的產品; 3.采用電子膨脹閥,通過脈沖開關信號在0~100%范圍調節(jié)制冷量。 4.美國Emerson高效離心式油分離器,分油效率高達99%以上,確保壓縮機使用壽命。 5.壓縮機吸氣壓力和溫度雙重調節(jié)和保護,確保各種工況下壓縮機安全。 |
●真空:采用世界一流的德國Leybold油封旋片真空泵。 | |
●控制:日本Unique 工業(yè)級液晶觸摸屏,防水,耐振動,配置一法國施耐德為主的電器執(zhí)行器件,系統(tǒng)全自動控制,運行可靠性高。 | |
操作簡單 | ●操作簡單:觸摸屏控制器中文菜單欄顯示,操作便捷; |
●試件測試電源控制:配置了AC220V電源接線端子和一組380V以內的接線端子及電源插座,試驗過程中控制器可以根據試驗剖面需要,自動開啟或切斷試件測試電源; | |
●上位機(選配):配置遠程監(jiān)控計算機, 控制系統(tǒng)實現冗余控制和遠程監(jiān)控; | |
●采用瑞士HUBA壓力變送器器進行壓力測量,測量精度更高,漂移小。 ●壓縮機吸排氣壓力通過壓力表實時顯示,便于檢修和維護; ●機組內部消音,底部減振設計,降低振動和噪音在傳播。 | |
●試驗箱可以根據用戶需求提供測試用盲法蘭,用于安裝航空電連接器或進出管接頭。 | |
功能齊全 | ●試驗功能齊全:高/低溫恒溫試驗、高低溫循環(huán)試驗、、低氣壓試驗、高/低溫、低氣壓試驗等。 |
維護保養(yǎng)方便 | ●自診斷:控制系統(tǒng)具有自診斷功能,當出現超溫、壓縮機超壓、過載,風機過載等故障時,控制器中文顯示故障原因,并給出詳細解決辦法; |
●保養(yǎng):冷凝器前面安裝使用不銹鋼濾網的Y型過濾器,便于定期清洗,防止冷凝器臟堵造成降溫速率降低甚至超壓保護停機; | |
●歷史記錄:觸摸屏和選配的PC顯示界面均能查看溫度歷史記錄和報警記錄。 |
二、 主要技術指標
序 | 項目 | 內容 |
A. A | 工作室尺寸 | 600D×500W×830H mm. |
外形尺寸 | 約1850D×950W×1900H mm,不含控制器,馬達、測試孔等突出部分。 | |
B. | 溫度范圍 | -40℃~+150℃ |
濕度范圍 | 20-98% ,只能常壓下做濕度 | |
溫度波動度 | ±0.5℃,常壓空載 | |
溫度均勻度 | 1.常壓~40kPa空載時:≤2℃; 2.箱內壓力4~40kPa,空載時:≤5℃; 3.箱內壓力1~4kPa,空載時:≤10℃; 4. 箱內壓力<1 kPa,不考核。 | |
溫度偏差 | ≤±2℃,常壓空載; ≤±5℃,(常壓~1kPa,0℃~50℃,空載,出風口控溫傳感器); <1 kPa不考核。 | |
升降溫速率 | 150℃~-40℃≥1℃ /min(常壓、空載、全程平均); -40℃~+150℃≥3℃ /min(常壓、空載、全程平均); | |
C. | 壓力范圍 | 1.壓力范圍:常壓~50kPa |
降壓速率 | 1.常壓~1.0kPa≤40min; 2.壓力恢復速率:≤10.0 kPa /min。 | |
壓力偏差 | 壓力≥40kPa時: ≤±2kPa; 壓力4kPa~40kPa時:≤±5%kPa; <4kPa時 ≤±0.1kPa | |
快速減壓(選配) | 75.2kPa~18.8kPa≤15s; | |
D. | 功率 | 總功率:約60kW; 最大運和功率:約65kW。 |
D. | 內置燈 | 箱體內裝一個燈炮。 |
E. | 噪音 | ≤75dB(A),距離箱體正前方一米遠處距地面一米高時測量。 |
F. | 重量 | 約1800kg。 |
三、 制造和驗收相關標準
序 | 項目 | 內容 |
A. | 滿足試驗方法 | GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法 Ab |
GB/T2423.2-2008 高溫試驗方法 Bb | ||
GB/T2423.21-2008 低氣壓試驗方法 M | ||
GB/T2423.25-2008 低溫/低氣壓綜合試驗Z/AM | ||
GB/T2423.26-2008 高溫/低氣壓綜合試驗Z/BM | ||
GJB150.1A-2009 通用要求 | ||
GJB150.2A-2009《低氣壓(高度)試驗》 | ||
GJB150.3A-2009《高溫試驗》 | ||
GJB150.4A-2009《低溫試驗》 | ||
GJB150.6-86《溫度-高度試驗》 | ||
B. | 產品制造標準 | GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術條件 |
GB/T 10590-2006高低溫低氣壓試驗箱技術條件 | ||
GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術條件 | ||
GB T5170.1-2008 電工電子產業(yè)環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則 | ||
GB/T5170.2基本參數檢定方法 | ||
GB/T 5170.10-2008《電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備》 | ||
JJF1101-2003 環(huán)境試驗設備溫度、濕度校準規(guī)范 |